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伏安特性测试仪
2011-05-16 | 编辑: | 【 】【关闭
 

  

Keithley 4200 SCS/C系统

(伏安特性测试仪/半导体测试系统)

 

主要功能:可以进行所有标准电子元器件的伏安特性进行测试,如:电阻、电容、电感、二极管、三极管、场效应管等;相关伏安参数:在小于21 V时,电流最大测量值为100 mA;小于210 V时,电流最大测量值为10 mA。当进行非标准电子元器件的伏安特性测试时,如:无/有机半导体、碳纳米管/线//器件等,需自行接驳、屏蔽;本仪器现有接驳方式为:标准BNC接口、鳄鱼夹;本仪器暂未配备屏蔽附件。

主要测试单元:三组源测量单元(SMU,已配备4200-PA前置放大器;21 V时,检测量程1 pA ~ 100 mA210 V时,检测量程1 pA ~ 10 mA;精度100 aA)容伏测试单元(CVU,在特定频段精度可达1 pF)

 
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